Product catalog
如何使用Moku進行阻抗測量?頻率響應分析儀Moku的頻率響應分析儀(FRA)在Moku輸出上驅動掃描正弦波,并同時測量Moku輸入接口接收到的信號幅度(或功率)。FRA可以測量系統或被測設備(DUT)的傳遞函數,從而創建幅度和相位與頻率的關系圖,通常稱為波特圖。圖1波特圖示例為了測量被測設備的阻抗(Zdut),我們需要了解FRA的功率圖。FRA圖使用dbm或相對于一毫瓦(1mW)的分貝為單位;在這種情況下,一個方便的計量單位。定義為:MokuFRA掃描正弦輸出可以以伏特(峰...
查看全文在現代光學領域,光束分析儀無疑是一位重要的舞者,它以精準的數據和直觀的圖像,向我們揭示了光束的微妙世界。這不僅僅是一臺儀器,更是一位探索者,帶領我們領略光束之舞的精彩。光束分析儀,顧名思義,是對光束進行分析和測量的設備。它能夠對光束的強度、方向、分布等參數進行精確測量,為光學研究、設計、生產提供了強有力的支持。在光學研究領域,光束分析儀發揮著至關重要的作用。科學家們通過它,可以深入研究光束的傳播特性、干涉現象、衍射規律等,從而推動光學理論的發展。同時,在光學設計和生產領域,光...
查看全文超低噪聲光學頻率梳的載波包絡偏頻穩定測試介紹OCTavePhotonics的光頻梳偏頻鎖定模塊COSMO提供了一種緊湊的方法來檢測激光頻率梳的載波包絡偏移頻率fceo。為了評估鎖定fceo的穩定性,我們使用一個COSMO模塊來測量MenloSystem公司的超低噪聲光學頻率梳的fceo,并使用反饋環外的第二個COSMO來驗證鎖相環的保真度。我們發現兩個COSMO模塊的信號在鎖定1秒時優于1x10-17,在1000秒時優于1x10-20。這種高穩定性水平與成熟的f-2f干涉測量...
查看全文下一代通訊光纖:光子晶體光纖光子晶體光纖(photoniccrystalFiber,簡稱PCF)是一種具有特殊孔隙結構的光纖,通過對光纖的結構進行精確控制,實現對光學性能和傳輸特性的優化。PCF的du特設計和優勢使其在光通信、光學傳感、激光器技術等領域展現出廣闊的應用前景。一、PCF的原理PCF的原理基于光子晶體的概念,光子晶體是一種具有周期性介質折射率分布的材料。在PCF中,通過在光纖芯部和包層之間引入微米尺度的周期性孔隙結構,形成了具有特殊光學特性的通道。這些孔隙可以采用...
查看全文激光指向穩定在光刻系統應用中的關鍵作用,及其優化方案!光刻是半導體制造工藝中的核心之一,極紫外光刻技術作為新一代光刻技術也處于快速發展階段。其基本原理是利用光致抗蝕劑(或稱光刻膠)感光后因光化學反應而形成耐蝕性的特點,將掩模板上的圖形刻制到被加工表面上。光刻半導體芯片二氧化硅的主要步驟包括涂布光致抗蝕劑、套準掩模板并曝光、用顯影液溶解未感光的光致抗蝕劑層、用腐蝕液溶解掉無光致抗蝕劑保護的二氧化硅層,以及去除已感光的光致抗蝕劑層。在光刻系統中,激光的指向穩定非常重要,會直接影響...
查看全文多光譜相機在遙感監測中的創新應用主要體現在以下幾個方面:精確測量和識別:多光譜相機可以捕捉到超出可見光范圍的光譜信息,包括紅外、紫外等波段。這使得它能夠更精確地測量和識別地物特征,如植被覆蓋、土壤類型、水體質量等。通過多光譜成像技術,可以獲取到豐富的地物信息,為遙感監測提供更為準確的數據支持。農田分類與管理:在農業領域,多光譜相機可以實現對農田的精準分類和管理。通過多光譜影像中植被指數、土壤濕度指數和植被覆蓋度等指標,可以區分出不同類型的農田,并為農業管理提供決策支持,如合理...
查看全文190-400nm高分辨紫外波前傳感器助力半導體行業發展!摘要:本文介紹了紫外波前傳感器在半導體檢測中的應用。詳細闡述了其在晶圓檢測、芯片檢測、封裝檢測以及光學元件檢測中的具體應用。指出紫外波前傳感器能夠提供高精度的檢測數據,幫助工程師及時發現問題并進行修復,從而提高產品質量和生產效率。上海昊量光電設備有限公司推出全新一代高分辨率紫外波前傳感器,探測波段覆蓋190-400nm。該高分辨率紫外波前傳感器具有可測試匯聚光斑,高動態范圍,大通光面(13.3mmx13.3mm),高分...
查看全文1GHz低噪聲光頻梳的簡易偏頻鎖定系統介紹利用OCTavePhotonics光頻梳偏頻鎖定模塊(COSMO)來檢測MenhirPhotonics1550nm1GHz飛秒激光器的載波包膜偏移頻率(fceo),可以在激光脈沖能量小于140pJ(平均功率35dB,以更低的尺寸、重量和功率要求實現了zui先jin的性能,該系統可以作為一種簡單的1GHz的超低噪聲光學頻率梳解決方案。正文光學頻率梳因其具有高精度、高靈敏度、高分辨率的特性,為光學原子鐘、精密光譜測量、阿秒科學等領域提供了...
查看全文昊量微信在線客服
昊量微信在線客服
版權所有 © 2025上海昊量光電設備有限公司 備案號:滬ICP備08102787號-3 技術支持:化工儀器網 管理登陸 Sitemap.xml